NVMe · 規格與原理

NVMe Base 2.4：Device Self-test：執行、進度與結果

00.01.Device Self-test 讓控制器在背景執行內部測試。讀懂這項功能，必須分清「接受測試要求」、「正在測試」與「留下測試結果」三件事；主機收到命令成功完成，並不表示裝置已通過測試。

這篇的主軸

決定測試對象

01-01先確認支援能力，再選擇測試種類及要納入的 namespace；控制器接受要求後，才開始背景測試。

namespace: namespace，主機透過 controller 存取的一份已格式化非揮發性容量。

追蹤正在進行的作業

02-01用目前作業與完成百分比回答「是否還在測試、做到哪裡」；新的命令、重設或中止要求可能影響進行中的作業。

判讀留下的結果

03-01測試停止後，再看結果紀錄。先確認哪些欄位有效，才能解釋失敗位置與相關資訊。

把主軸連起來

00.02.先確認控制器支援哪些測試，再選擇測試種類與 namespace，送出命令後觀察目前作業及進度，最後閱讀歷史結果與有效性標記。相同的 Get Log Page 可以在不同時間回答「做到哪裡」和「最後結果如何」，但兩者使用不同欄位。

01 Device Self-test 的啟動與執行

從「收到要求」走到「開始測試」

先確認裝置願意提供什麼

01.01.從 Identify 的 OACS.DSTS 確認 Device Self-test 支援，再讀 DSTO 與 EDSTT，理解同時執行作業的限制及延伸測試時間。EDSTT 是預估時間資訊，不能當成到點就宣告測試通過的計時器。

OACS.DSTS: Optional Admin Command Support 的 Device Self-test Supported bit，判斷 command 是否可用。
EDSTT: Extended Device Self-test Time，在 power state 0 下的 extended test 名目完成分鐘數。
DSTO: Device Self-test Options，Identify Controller 中回報 refresh 與 concurrency 選項的欄位。

指定種類，也指定對象

01.02.以測試 NSID=7 為例，STC 選擇測試種類，NSID 選擇納入的 namespace。兩個欄位回答不同問題。先確認 NSID=7 是有效且可透過收到命令的控制器存取的 namespace，才能把後面的結果與預期對象連起來。

NSID: Namespace Identifier，controller 用來指向 namespace 的數值 handle；identifier 不等於 namespace 物件本身。
STC: Self-test Code 是 Device Self-test CDW10 的動作 nibble；result entry 的 STC 則是 Status Code，須依 SCVLD 判斷有效。

把命令完成與背景作業分開記錄

01.03.送出命令後，主機先收到這筆命令的 CQE。成功代表要求已被接受；測試本身可能仍在執行。接著讀 LID 06h 的目前作業與進度，才能回答「現在是否正在測試」。

LID 06h: Device Self-test Log Page 的 identifier 06h；同時包含 current operation 與 20 筆歷史結果。
CQE: Completion Queue Entry，CQ 中的一筆完成結果資料結構。
LID: Log Page Identifier；指定要讀取哪一種 log page 的編號。

已有作業時，先辨認兩次要求的關係

01.04.假設延伸測試尚未完成，主機又送出新的 STC。不能把第二次命令一概當作排隊等待，也不能假定它必定取代前一個作業。應依目前作業種類和新 STC 的組合，查清楚是拒絕、停止原作業，還是建立結果；這正是命令互動表的用途。

來源：Base 2.4 §5.2.14.2.1, 8.1.8 · Base 2.4 §5.2.6

來源：NVME-BASE-2.4, Rev. 2.4, §5.2.14.2.1, 8.1.8, 文件頁 352-358, 614, PDF 頁 378-384, 640

來源：NVME-BASE-2.4, Rev. 2.4, §5.2.6, 文件頁 199, PDF 頁 225

來源：NVME-BASE-2.4, Rev. 2.4, §5.2.6, 文件頁 199-200, PDF 頁 225-226

來源：NVME-BASE-2.4, Rev. 2.4, §5.2.6, 文件頁 200, PDF 頁 226

來源：NVME-BASE-2.4, Rev. 2.4, §5.2.6, 文件頁 201, PDF 頁 227

命令成功回覆代表要求被接受，背景測試仍可能繼續。測試期間看 DSTOS／DSTCS；測試結束後再由結果紀錄判讀 DSTR 與有效旗標。時間軸只表示順序，不按持續時間比例繪製。

DSTCS: Device Self-test Completion Status，LID 06h 中的 0 到 100 完成百分比。
DSTOS: Device Self-test Operation Status，LID 06h 中表示目前 operation 類型的 nibble。
DSTR: Device Self-test Result，結果 entry 中表示成功、abort 或 segment failure 的 nibble。

把流程對回規格條件

01.06.啟動 Device Self-test 前，先讀 Identify Controller：OACS.DSTS 判斷 command 是否支援；EDSTT 是 extended operation 在 power state 0 的名目分鐘數；DSTO.SDSO 決定同時只能有一個 subsystem-wide operation，或每個 controller 各一個。這三個欄位回答不同問題。

controller: controller，實作 NVMe 介面、取走 command 並回報 completion 的控制實體。
SDSO: Single Device Self-test Operation，選擇 subsystem-wide 單一 operation 或 per-controller operation 的 bit。

來源：Base 2.4 §5.2.14.2.1, 8.1.8

來源：NVME-BASE-2.4, Rev. 2.4, §5.2.14.2.1, 8.1.8, 文件頁 352-358, 614, PDF 頁 378-384, 640

01.07.NSID 指定 Device Self-test 要納入的 namespace。0h 表示只測試控制器；FFFFFFFFh 表示納入作業開始時、已附加且可透過該控制器存取的所有 namespace。指定單一 namespace 時，識別碼超出有效範圍會回覆 Invalid Namespace or Format；有效識別碼若尚未配置，或 namespace 未附加到收到命令的控制器，則屬 inactive，回覆 Invalid Field in Command。Host-Initiated Refresh 忽略 NSID。

Host: 主機；執行作業系統並送出 NVMe 命令的一端。

來源：Base 2.4 §5.2.6

來源：NVME-BASE-2.4, Rev. 2.4, §5.2.6, 文件頁 199, PDF 頁 225

01.08.CDW10.STC[3:0] 選動作：1h=short、2h=extended、3h=Host-Initiated Refresh、Eh=vendor specific、Fh=abort；其餘 encoding reserved。只有 STC=Eh 時 CDW15.DSTP 才是 vendor specific，其他情況 CDW15 reserved。

DSTP: Device Self-test Parameter，只有 vendor-specific STC=Eh 時才有 vendor-defined 語意的 CDW15。
CDW: CDW（Command Dword）；命令中的 32-bit 欄位單位，例如 CDW10 的 10 是欄位 index，不是 byte offset。

來源：Base 2.4 §5.2.6

來源：NVME-BASE-2.4, Rev. 2.4, §5.2.6, 文件頁 199-200, PDF 頁 225-226

01.09.已有 operation 時，再送 short、extended 或 Host-Initiated Refresh 必須以 Device Self-test in Progress 中止；vendor-specific 新命令的行為仍是 vendor specific。STC=Fh 則依序中止目前 operation、建立最新 result、清除 current status，最後成功完成 command。

來源：Base 2.4 §5.2.6

來源：NVME-BASE-2.4, Rev. 2.4, §5.2.6, 文件頁 200, PDF 頁 226

01.10.Device Self-test command 的 Admin CQE 只證明『啟動／中止動作已被處理』，不是背景測試已完成。command-specific status 1Dh 表示已有 operation in progress；software 必須把 CQE 與後續 LID 06h 分開記錄。

Admin: Administrative，建立、設定、查詢或管理 controller 與 queue 的控制路徑。

來源：Base 2.4 §5.2.6

來源：NVME-BASE-2.4, Rev. 2.4, §5.2.6, 文件頁 201, PDF 頁 227

Device Self-test 的啟動與執行
測試對象或控制值	涵蓋的範圍或動作	執行與結果的規則
NSID=0	只包含 controller	不測 namespace media
目前可存取的 NSID	指定 namespace	invalid 與 inactive status 不同
NSID=FFFFFFFFh	所有 attached／accessible namespaces	集合以 start 時點為準
STC=Fh	abort current operation	成功不代表曾有 operation

閱讀相關規格圖表 → Device Self-test 的啟動與執行

02 LID 06h 的目前進度與歷史結果

讀懂一筆測試紀錄，而非只找「成功」兩個字

先看現在，再看歷史

02.01.LID 06h 前面的 DSTOS、DSTCS 描述目前作業及完成百分比；後面的結果項目保存已結束作業。假設目前進度是 50%，第一筆歷史紀錄仍可能是上一次測試結果，不能拿來宣告這次測試已成功或失敗。

辨認是哪種測試、怎麼結束

02.02.在同一筆結果內，DSTC 說明測試種類，DSTR 說明結束結果，SEGN 在適用時指出發生失敗的測試區段。把種類、結果及區段放在一起，才知道後面的失敗資訊是在描述哪一次作業。

SEGN: Segment Number，只有 DSTR=7h 時指出第一個失敗 diagnostic segment。

先讀有效性，再讀數值

02.03.VDINFO 的有效性旗標決定 NSID、FLBA 及狀態碼能否使用。例如 FLBA 的記憶體內容即使是 123，只要 FLBA Valid 沒有成立，123 就不能用來指出故障位置。有效旗標成立後，才以 namespace 的格式解釋這個 LBA。

VDINFO: Valid Diagnostic Information，分別 gate NSID、FLBA、SCT 與 SC 的 validity bitmap。
FLBA: Failing LBA，NVM Command Set 定義為造成 self-test failure 的其中一個 logical block address。

限制結論的範圍

02.04.NVM Command Set 說明 FLBA 可以指出造成測試失敗的一個 logical block；遇到多個失敗區塊時，這個欄位只提供其中一個。它不是完整清單，也不能擅自推論一定是所有失敗區塊中編號最小的那個。

logical block: 邏輯區塊；namespace 可定址的基本單位，其資料大小由使用中的格式決定。
NVM: Non-Volatile Memory，斷電後仍能保存資料的記憶體。

來源：Base 2.4 §5.2.13 · Base 2.4 §5.2.13.1.7 · NVM Command Set 1.3 §4.1.4.3

來源：NVME-BASE-2.4, Rev. 2.4, §5.2.13, 文件頁 213-216, PDF 頁 239-242

來源：NVME-BASE-2.4, Rev. 2.4, §5.2.13.1.7, 文件頁 229-230, PDF 頁 255-256

來源：NVME-BASE-2.4, Rev. 2.4, §5.2.13.1.7, 文件頁 231, PDF 頁 257

來源：NVME-BASE-2.4, Rev. 2.4, §5.2.13.1.7, 文件頁 231-232, PDF 頁 257-258

來源：NVME-NVM-CS-1.3, Rev. 1.3, §4.1.4.3, 文件頁 76, PDF 頁 76

把流程對回規格條件

02.06.讀取 LID 06h 所需的最小 Get Log Page slice 是：LID=06h、LSP=0、RAE 依事件策略選擇、NUMD 表示 564 bytes、LPOL/LPOU=0、OT=0、CSI=0、UIDX=0。564 bytes=141 dwords，因此 0's-based NUMD=140=008Ch；RAE=0 時 CDW10=008C0006h。

0's-based: 0's-based encoding，以 0 表示實際數量 1；依欄位換算公式通常是欄位值加 1。
LPOL: Log Page Offset Lower，Get Log Page byte offset 的低 32 bits。
LPOU: Log Page Offset Upper，Get Log Page byte offset 的高 32 bits。
NUMD: Number of Dwords，0's-based transfer dword count；實際 bytes = (NUMD + 1) × 4。
UIDX: UUID Index，指向 UUID List 位置的 index；0 表示未指定 UUID。
CSI: I/O Command Set Identifier；選擇 I/O 命令集，NVM Command Set 使用 00h。
LSP: Log Specific Field，意義由所選 log page 定義的 command selector。
RAE: Retain Asynchronous Event，Get Log Page 是否保留相關 asynchronous event 的 selector。

來源：Base 2.4 §5.2.13

來源：NVME-BASE-2.4, Rev. 2.4, §5.2.13, 文件頁 213-216, PDF 頁 239-242

02.07.LID 06h 的 byte 0 以 DSTOS 表示目前 operation，byte 1 的 DSTCS[6:0] 是完成百分比；DSTOS=0 時 host 應忽略 DSTCS。controller 在 operation 完成或被中止時，必須先建立 result entry，之後才能把 in-progress status 清為 0。

來源：Base 2.4 §5.2.13.1.7

來源：NVME-BASE-2.4, Rev. 2.4, §5.2.13.1.7, 文件頁 229-230, PDF 頁 255-256

02.08.LID 06h 保留 20 筆、每筆 28 bytes 的結果，RDS1 永遠是最新完成或中止的 operation。未使用 entry 必須讓 DSTR=Fh 且 DSTC=0h，其他欄位由 host 忽略；不能把全零以外的殘值當成歷史結果。

來源：Base 2.4 §5.2.13.1.7

來源：NVME-BASE-2.4, Rev. 2.4, §5.2.13.1.7, 文件頁 229-230, PDF 頁 255-256

02.09.每筆 DSTS 的高 nibble DSTC 表示原始 self-test code，低 nibble DSTR 表示完成／中止原因。只有 DSTR=7h 時 SEGN 才指出第一個失敗 segment；其他 DSTR 下 SEGN 應忽略。

來源：Base 2.4 §5.2.13.1.7

來源：NVME-BASE-2.4, Rev. 2.4, §5.2.13.1.7, 文件頁 231, PDF 頁 257

02.10.VDINFO 的 NSIDVLD、FVLD、SCTVLD、SCVLD 是四個獨立有效性判斷。NSID、FLBA、STCT、STC 只有在對應 bit=1 時才可解讀；先驗證 validity，再讀數值，不能用非零值猜測有效。

FVLD: Failing LBA Valid，決定 FLBA 欄位是否可解讀的 validity bit。

來源：Base 2.4 §5.2.13.1.7

來源：NVME-BASE-2.4, Rev. 2.4, §5.2.13.1.7, 文件頁 231-232, PDF 頁 257-258

02.11.Base 將 Figure 219 的 FLBA 留給 I/O Command Set 定義。NVM Command Set 1.3 規定 bytes 23:16 是造成失敗的 logical block address；若有多個失敗 logical blocks，只回其中一個，且僅 FVLD=1 時有效。

I/O: Input/Output，對 namespace 執行資料輸入與輸出的操作類別。

來源：NVM Command Set 1.3 §4.1.4.3

來源：NVME-NVM-CS-1.3, Rev. 1.3, §4.1.4.3, 文件頁 76, PDF 頁 76

LID 06h 的目前進度與歷史結果
進度或歷史欄位	描述什麼資訊	何時可以使用這個欄位
DSTOS/DSTCS	current state/progress	DSTOS=0 時忽略 percentage
DSTR=7h + SEGN	已知第一個 failed segment	其他 DSTR 忽略 SEGN
FVLD + FLBA	其中一個 failing LBA	不是所有失敗 LBA 清單
POH + STCT/STC	failure context	仍需 validity bits

POH: Power On Hours，self-test result 建立時累積的 power-on hours，不含指定 low-power 時間。

閱讀相關規格圖表 → LID 06h 的目前進度與歷史結果

03 讀懂本篇的規格圖表

03.01.以下依概念整理規格中的圖表。每組先說明讀取順序與要判斷的問題，接著列出各圖的欄位或行為說明。可以由正文的連結跳到對應組別，也可以用這一節檢查自己能否把欄位連回完整操作。

圖表組 01 · Device Self-test 的啟動與執行 · 7 張圖表

03.02.命令格式先讀 NSID 與 STC，再沿狀態流程找到 LID 06h。結果布局先拆開測試種類與結果碼，再依 SEGN、FVLD 等有效性條件決定要讀哪些細節。

回到本節的解釋與範例

依目前作業與新要求，逐步判斷接受或中止

03.03.先用 DSTO.SDSO 決定「已有測試」是看收到命令的控制器，還是看整個 subsystem，再以 STC 選互動表的一列。NSID 與 DSTP 則分別決定對象及適用參數。

一起判讀的欄位或標示	如何共同決定操作或結果	帶入情境後怎麼讀
STC bits 3:0／DSTP	STC=1h、2h、3h 分別是 short、extended、Host-Initiated Refresh；Eh 是廠商測試；Fh 是中止。DSTP 只有 Eh 使用廠商定義，其餘為保留。	要求 short test 時，不能在 DSTP 填一個自訂「測試次數」；此處並沒有這個標準用途。
已有作業 + STC=1h／2h／3h	新命令以 Device Self-test in Progress 結束，不會因新命令而排入下一個標準測試。	Extended 正在執行，再送 short：第二筆要求被拒絕，不能把它的 status 當成第一筆測試已發現故障。
已有作業 + STC=Fh	依序中止作業、建立最新結果紀錄、更新目前狀態，再成功完成中止命令。	中止命令成功後，應到歷史結果找被中止作業的紀錄，不能把成功 CQE 解釋成測試通過。
沒有作業 + STC=1h／2h／3h 或 Fh	啟動要求先驗證參數並建立目前作業；Fh 則成功完成而不修改 log。Eh 的處理由廠商定義。	沒有測試時送 Abort，不會憑空新增一筆測試失敗紀錄。
NSID=0h／單一 NSID／FFFFFFFFh	0h 只含控制器，單一值選指定 namespace，FFFFFFFFh 選作業開始時經該控制器可存取的所有已附加 namespaces。Refresh 忽略 NSID。	識別碼 invalid 回 Invalid Namespace or Format；inactive 回 Invalid Field in Command。兩者要按 Base 的有效性及附加關係區分。

Base180-1Device Self-test in Progress 表示已有測試，新的要求未能開始。

來源：Base 2.4 §5.2.6

來源：NVME-BASE-2.4, Rev. 2.4, §5.2.6, Figure 180, 文件頁 201, PDF 頁 227

用例子讀懂

Base180-2收到此狀態後，先讀目前測試資訊；它不是新測試的通過結果，也不是說裝置的資料一定壞掉。

欄位、條件與相關細節：依目前作業與新要求，逐步判斷接受或中止 →

同一筆命令的身分、對象與資料方向

03.04.CDW0 先選操作與資料指標格式；NSID 選操作對象；DPTR／MPTR 再指向資料。命令專屬 Dwords 的含義由 OPC 與命令集決定。

DPTR: Data Pointer，SQE 中指出 command data buffer 的欄位。
MPTR: Metadata Pointer，SQE 中指出獨立 metadata buffer 的欄位。

一起判讀的欄位或標示	如何共同決定操作或結果	帶入情境後怎麼讀
OPC／FUSE／CID	OPC 選操作，FUSE 說明融合操作角色，CID 讓完成項目找回原命令。	相同的 CDW10 數值放在 Read 與 Set Features 中，可能完全不是同一種意思。
PSDT → DPTR／MPTR	PSDT 決定指標依 PRP 或 SGL 等格式解讀；指標內的數值不可在未選格式時直接當成長度。	主機先選指標格式，再按該格式準備 buffer 描述，最後由命令語意判斷資料方向。
NSID／CDW2–CDW15	NSID 與命令專屬欄位共同決定對象、範圍及選項。	Create 的 DPTR 指向建立參數；它不是新 namespace 的實體儲存位址。
NDT／NDM／MDPTR	廠商命令使用共同格式時，資料與 metadata 長度各有自己的欄位及指標。	先看廠商命令格式支援宣告，再依長度定義換算，不能把欄位上限直接加 1 後存回同寬整數。

metadata: 隨 logical block 儲存的附加資料，可包含資料保護資訊，也可有其他用途。
PSDT: PRP or SGL for Data Transfer，CDW0 中決定 DPTR 應按 PRP 或 SGL 解讀的欄位。
CID: Command Identifier，與 SQ identifier 合用以辨識 outstanding command。
NDM: Number of Dwords in Metadata Transfer，standard vendor-specific format 中的實際 metadata dword 數。
NDT: Number of Dwords in Data Transfer，standard vendor-specific format 中的實際 data dword 數。
PRP: Physical Region Page，以 memory page 為單位描述 host-addressable data buffer 的 pointer 格式。
SGL: Scatter Gather List，以 descriptor 與 segment 描述一段或多段 data buffer 的格式。

來源：Base 2.4 §4.1.1

來源：NVME-BASE-2.4, Rev. 2.4, §4.1.1, Figure 93, 文件頁 140-142, PDF 頁 166-168

Base Figure 93 · Common Command Format

一句話重點

Base93-1共通 SQE 固定各命令共用欄位的位置。

SQE: Submission Queue Entry，SQ 中的一筆命令資料結構。

來源：Base 2.4 §4.1.1

來源：NVME-BASE-2.4, Rev. 2.4, §4.1.1, Figure 93, 文件頁 140-142, PDF 頁 166-168

用例子讀懂

Base93-2同樣在 CDW10，Read 與管理命令可以有完全不同含義；先依 OPC 選命令，再查專屬欄位表。

欄位、條件與相關細節：同一筆命令的身分、對象與資料方向 →

從支援能力決定測試計畫

03.05.這份 Identify Controller 結構很長，本篇需要的是測試支援、同時執行限制與延伸測試時間；其他功能欄位不參與這次判讀。

一起判讀的欄位或標示	如何共同決定操作或結果	帶入情境後怎麼讀
OACS.DSTS	Device Self-test 支援位元決定能否使用命令。	DSTS=0 時，不能因 LID 06h 有固定編號就假定能啟動測試。
DSTO.SDSO	指出 subsystem 的單一 Device Self-test 作業限制。	兩個控制器都支援命令，不等於可各自同時啟動一個作業；仍需確認共享的作業限制。
EDSTT	延伸測試完成時間以分鐘表示，供安排測試使用。	EDSTT=10 表示時間資訊是 10 分鐘；它不是目前完成百分比，也不能當作第 10 分鐘必定通過的保證。

來源：Base 2.4 §5.2.14.2.1

來源：NVME-BASE-2.4, Rev. 2.4, §5.2.14.2.1, Figure 338, 文件頁 340-364, PDF 頁 366-390

Base Figure 338 · Identify Controller Data Structure

一句話重點

Base338-1Identify Controller 先告知能力與限制，主機再決定可使用的操作。

來源：Base 2.4 §5.2.14.2.1

來源：NVME-BASE-2.4, Rev. 2.4, §5.2.14.2.1, Figure 338, 文件頁 340-364, PDF 頁 366-390

用例子讀懂

Base338-2規格列出某選用命令時，先查相應支援欄位再發出要求；「命令有定義」與「這台控制器支援」是不同證據。

欄位、條件與相關細節：從支援能力決定測試計畫 →

圖表組 02 · LID 06h 的目前進度與歷史結果 · 12 張圖表

03.06.先分開 log 的 current header 與歷史結果描述子。DSTS 中測試種類和結果碼分開讀，再以結果種類及有效位決定 SEGN、FLBA 等欄位是否有效；NUMD 計算則使用整個所需傳輸長度。

回到本節的解釋與範例

把失敗位置連回有效旗標與 namespace 格式

03.07.NVM Figure 111 補上 Base 結果紀錄中 FLBA 的命令集語意。它不另外建立一份測試結果，必須回到同一筆 Base Figure 219 紀錄內判讀。

一起判讀的欄位或標示	如何共同決定操作或結果	帶入情境後怎麼讀
VDINFO 的 FLBA Valid → FLBA bytes 23:16	有效旗標成立時，FLBA 才表示造成失敗的一個 logical block。	FLBA=123、有效旗標=0：不能採用 123。有效旗標=1：才可將它作為其中一個失敗位置。
NSID／LBA format／FLBA	NSID 確定儲存對象，格式決定該 LBA 代表多少資料；多個失敗區塊可能只回報其中之一。	每個 block 4096 bytes 時，LBA 123 的資料起點是 503808 bytes。這是 logical address 的換算，不是 NAND 實體頁地址。

來源：NVM Command Set 1.3 §4.1.4.3

來源：NVME-NVM-CS-1.3, Rev. 1.3, §4.1.4.3, Figure 111, 文件頁 76, PDF 頁 76

NVM Figure 111 · Self-test Results Data Structure

一句話重點

NVM111-1Self-test 的 FLBA 只有在有效性標記成立時才是有效故障位置。

來源：NVM Command Set 1.3 §4.1.4.3

來源：NVME-NVM-CS-1.3, Rev. 1.3, §4.1.4.3, Figure 111, 文件頁 76, PDF 頁 76

用例子讀懂

NVM111-2紀錄中即使保留一個非零 FLBA，若對應有效 bit 沒有設定，就不能據此指認那個 LBA 壞掉。

欄位、條件與相關細節：把失敗位置連回有效旗標與 namespace 格式 →

目前進度與歷史結果使用不同欄位

03.08.先由 log header 讀目前作業，再選一筆結果紀錄。紀錄內先看測試種類與結果，再按有效性旗標讀失敗欄位。

一起判讀的欄位或標示	如何共同決定操作或結果	帶入情境後怎麼讀
DSTOS／DSTCS；RDS1–RDS20	前者是目前作業與進度，後者是結果紀錄序列。	目前進度 50% 與最前面的歷史成功結果可以同時存在，兩者未必屬於同一作業。
DSTC／DSTR／SEGN／POH	分別描述測試種類、結果、適用的失敗區段與作業時間背景。	先確認作業如何結束，再決定 SEGN 能否用於解釋失敗位置。
VDINFO → NSID／FLBA／STCT／STC	有效性旗標決定哪些資訊可信；STCT 與狀態碼需成對解讀。	FLBA Valid=0 時，FLBA 的非零內容不能用來指出故障 LBA。
VS	廠商專屬結果需依廠商格式解讀，不沿用其他裝置的定義。	未知 VS bytes 保留原值及來源，不能任意翻成錯誤類別。

來源：Base 2.4 §5.2.13.1.7

來源：NVME-BASE-2.4, Rev. 2.4, §5.2.13.1.7, Figure 218, 文件頁 230, PDF 頁 256

來源：NVME-BASE-2.4, Rev. 2.4, §5.2.13.1.7, Figure 219, 文件頁 231-232, PDF 頁 257-258

Base Figure 218 · Device Self-test Log Page

一句話重點

Base218-1Self-test log 同時保存目前作業狀態與歷史結果。

來源：Base 2.4 §5.2.13.1.7

來源：NVME-BASE-2.4, Rev. 2.4, §5.2.13.1.7, Figure 218, 文件頁 230, PDF 頁 256

用例子讀懂

Base218-2目前進度 50% 表示正在執行的測試；最前面的歷史結果可能屬於前一次已結束測試，兩者不要混成同一次結果。

欄位、條件與相關細節：目前進度與歷史結果使用不同欄位 →

Base Figure 219 · Self-test Result Data Structure

一句話重點

Base219-1Self-test Result 的有效標記決定哪些失敗欄位可以解讀。

來源：Base 2.4 §5.2.13.1.7

來源：NVME-BASE-2.4, Rev. 2.4, §5.2.13.1.7, Figure 219, 文件頁 231-232, PDF 頁 257-258

用例子讀懂

Base219-2先看 VDINFO，再決定 NSID、FLBA 或狀態欄位是否有效；欄位有非零內容不代表它在這次結果中有效。

欄位、條件與相關細節：目前進度與歷史結果使用不同欄位 →

測試區段與 Format 影響範圍如何一起判斷

03.09.Figure 700 是測試切分的說明性範例；Figure 701 則是 Format 對測試的中止條件表。前者不要求所有廠商使用相同區段，後者要依 SES 選擇 FNS 或 SENS 分支。

一起判讀的欄位或標示	如何共同決定操作或結果	帶入情境後怎麼讀
segment／test performed／failure criteria／SEGN	區段、測試內容與失敗判準描述一次內部檢查；結果紀錄的 SEGN 在有效時指向失敗區段。	SEGN=2 不足以直接推論某顆 NAND die 壞掉，仍需廠商對區段的定義。
SES=000b → FNS；SES=001b／010b → SENS	沒有 secure erase 時看 FNS，有 secure erase 時看 SENS；相應位元為 1 時，表中要求中止，不再以兩筆 NSID 的相同與否作限制。	不要同時把 FNS 與 SENS 都當成必要條件，應先由 SES 選對那一欄。
單一 Format NSID／單一測試 NSID	相應範圍位元為 0 時，兩個 NSID 相同才落入表中的必須中止條件。	Format NSID=7、測試 NSID=7，與 Format NSID=8、測試 NSID=7 的判斷不同。
FFFFFFFFh／Optional	Format 全部 namespace 時中止；單一 Format 對上涵蓋所有 namespace 的測試時，表中部分列是 Optional。	Optional 表示允許中止但不要求中止，不能改寫成一定中止或一定繼續。

來源：Base 2.4 §8.1.8 · Base 2.4 §8.1.8.1-8.1.8.2

來源：NVME-BASE-2.4, Rev. 2.4, §8.1.8, Figure 700, 文件頁 615, PDF 頁 641

來源：NVME-BASE-2.4, Rev. 2.4, §8.1.8.1-8.1.8.2, Figure 701, 文件頁 616, PDF 頁 642

Base Figure 700 · Example Device Self-test Operation (Informative)

一句話重點

Base700-1Self-test 範例示意分段測試與失敗判斷的關係。

來源：Base 2.4 §8.1.8

來源：NVME-BASE-2.4, Rev. 2.4, §8.1.8, Figure 700, 文件頁 615, PDF 頁 641

用例子讀懂

Base700-2沿某一 segment 看測試內容與失敗條件，再看結果如何記錄；此圖是說明性例子，不要求每家控制器都用相同內部測試順序。

欄位、條件與相關細節：測試區段與 Format 影響範圍如何一起判斷 →

Base Figure 701 · Format NVM command Aborting a Device Self-Test Operation

一句話重點

Base701-1Format NVM 是否中止 Self-test 取決於作用範圍與格式化條件。

來源：Base 2.4 §8.1.8.1-8.1.8.2

來源：NVME-BASE-2.4, Rev. 2.4, §8.1.8.1-8.1.8.2, Figure 701, 文件頁 616, PDF 頁 642

用例子讀懂

Base701-2格式化另一個不在測試範圍內的 namespace，不能只憑「有 Format 命令」就推論測試必須中止；按 NSID、SES 等條件交叉查表。

欄位、條件與相關細節：測試區段與 Format 影響範圍如何一起判斷 →

同一筆 Get Log Page 的目標、範圍與資料位置

03.10.讀 log 先選 LID 與命令集，再解讀該 log 的 LSP／LSI；NUMD 決定本次量，LPO 決定本次起點，DPTR 決定主機接收位置。

LSI: Log Specific Identifier，意義由所選 log page 定義的 identifier。

一起判讀的欄位或標示	如何共同決定操作或結果	帶入情境後怎麼讀
LID／CSI／LSP／LSI	LID 與 CSI 選紀錄種類，LSP、LSI 的含義由所選 log 定義。	LSP 在 Boot 中可含 BPID，在 Telemetry 中有建立 capture 的控制位元，不能跨 log 照搬。
NUMDU／NUMDL	先合成 NUMD=(NUMDU<<16)\|NUMDL，再計算 (NUMD+1)×4 bytes。	512 bytes 對應 NUMD=127；高低部分不能各自加 1。
LPOU／LPOL／OT	高低欄位組成 64-bit offset；OT 決定按 byte 位移或項目索引解讀。	byte-offset 模式下，從 512-byte 表頭後開始讀資料要保留起點差異；index 模式不能直接使用同一個 byte 數。
DPTR／RAE	DPTR 給接收記憶體，RAE 控制相關事件的保留行為。	分段讀取先準備每段 buffer，再在恰當時機確認事件，避免中途改變可取得的紀錄。
LSUPP／LID Specific Parameter	Supported Log Pages 回報實際支援及 log 專屬能力。	規格列有某個 LID，不代表此裝置一定實作；先查支援再使用進階選項。

offset: offset；從指定起點算出的位移。它回答「離起點多遠」，不等於 index。
NUMDL: Number of Dwords Lower，Get Log Page 的 NUMD 低 16 bits。
NUMDU: Number of Dwords Upper，Get Log Page 的 NUMD 高 16 bits。
index: index；用來選取清單中的項目或格式。它回答「選哪一項」，不是「離起點多遠」。

來源：Base 2.4 §5.2.13

來源：NVME-BASE-2.4, Rev. 2.4, §5.2.13, Figure 203, 文件頁 213, PDF 頁 239

來源：NVME-BASE-2.4, Rev. 2.4, §5.2.13, Figure 204, 文件頁 213, PDF 頁 239

Base206-1LPOL 是 log offset 的低 32 bits，單位還要看 offset 模式。

來源：Base 2.4 §5.2.13

來源：NVME-BASE-2.4, Rev. 2.4, §5.2.13, Figure 206, 文件頁 214, PDF 頁 240

用例子讀懂

Base206-2byte-offset 模式下讀下一段 512 bytes，LPOL 設 512；index-offset 模式則以項目索引解釋，數字 512 不再表示相同位置。

index-offset: index-offset 對比；index 選取項目，offset 計算位置。例如從 0 起算的 Format Index=2 選第 3 個格式，而 OFST=256 表示從 image 起點位移 256 個 Dwords。

03.11.Device Self-test 是由 vendor-specific segments 組成的背景工作。若另一個 command 必須暫停測試才能處理，controller 必須（shall）依序 suspend self-test、處理並完成該 command、再 resume self-test；同時可處理哪些 command 則由 vendor 決定。

來源：Base 2.4 §8.1.8

來源：NVME-BASE-2.4, Rev. 2.4, §8.1.8, 文件頁 614, PDF 頁 640

03.12.short operation 應（should）在兩分鐘內完成，且 Controller Level Reset 會中止；extended operation 應在 EDSTT 內完成，必須跨 Controller Level Reset 與 power restoration 持續並於之後 resume。兩者不能共用同一套 reset 預期。

來源：Base 2.4 §8.1.8.1-8.1.8.2

來源：NVME-BASE-2.4, Rev. 2.4, §8.1.8.1-8.1.8.2, 文件頁 615-616, PDF 頁 641-642

03.13.short 與 extended 都會被適用的 Format NVM、sanitize start 或 STC=Fh 中止，namespace 從 inventory 移除時則可能（may）中止。Figure 701 顯示 Format 的 NSID 與 secure-erase 選項會改變是否必須中止，不能只看 opcode。

來源：Base 2.4 §8.1.8.1-8.1.8.2

來源：NVME-BASE-2.4, Rev. 2.4, §8.1.8.1-8.1.8.2, 文件頁 615-616, PDF 頁 641-642

學完後想一想

1. Device Self-test 啟動命令成功後，如何知道測試是否還在執行？

04.01.啟動 completion 不包含整個測試的最終結果。Device Self-test log 的 current operation 與 completion percentage 描述目前進度；結果紀錄則用於已結束的測試。

來源

來源：NVME-BASE-2.4, Rev. 2.4, §5.2.6, 文件頁 201, PDF 頁 227

來源：NVME-BASE-2.4, Rev. 2.4, §5.2.13.1.7, 文件頁 229-230, PDF 頁 255-256

2. Self-test result 中 FLBA 看起來是合理地址，就一定可以當作失敗位置嗎？

04.02.要先檢查對應的 validity bit；未宣告有效時不能依數值推論。即使有效，也可能只描述多個失敗 logical blocks 中的一個，並非完整範圍。

來源

來源：NVME-BASE-2.4, Rev. 2.4, §5.2.13.1.7, 文件頁 231-232, PDF 頁 257-258

來源：NVME-NVM-CS-1.3, Rev. 1.3, §4.1.4.3, 文件頁 76, PDF 頁 76